顶针探针荷重行程阻抗试验机为测试顶针探针量身定制，顶针和探针力值、行程、接触电阻为三个主要测试指标。我司此款机器可以同时测试顶针的荷重-位移-电阻曲线，同时也可以测试顶针的寿命测试。通过电脑设定储存数据，是一款很好的顶针探针试验机器。在测试头与底部测试夹具都需要精细处理，以便能保证测试细小的接触电阻。
针探针以测试电子设备的一些性能指标。所以对顶针探针的一些测试指标就有所要求。
顶针探针是通过自身的弹性接触面以及力度来保证与电子产品的有效接触。弹力太小或太大、接触电阻太大、行程不符合要求都会对测试产生影响。所以就需要对此些数据进行检测，甚至于进行全检。探针目前大致分类情况如下，探针根据电子测试用途可分为：
A、光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，国内大部分的探针产品均可替代进口产品；
B、在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针；产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，国内部分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品；
C、微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针，核心技术还是掌握在国外公司手中，国内生产厂商积极参与研发，但只有一小部分成功生产。
综上述，小小的探针但技术要求是挺高的。目前我司与国内诸多客户有合作，交付探针荷重阻抗行程试验机。可以测试探针的荷重-行程-电阻数据。同时还可以做寿命测试。有需要可以LX我们。此种机器在硬件上面还是有诸多要求，因为接触电阻小，我们需要尽可能减少治具产生的阻抗误差。
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